Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 Рентгенфлюоресцентный толщиномер
Рентгенфлюоресцентный толщиномер Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237
Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 Рентгенофлуоресцентный спектрометр-толщиномер с измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем для определения тонких покрытий, микроэлементов, сплавов, электролитов
Конструктивно измерительная система FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 аналогична XDLM. Разница заключается в типе детектора. В приборе XDAL 237 используется детектор на кремниевом PIN-диоде с охлаждением на элементе Пельтье, имеющий существенно более высокое разрешение по энергии, чем у пропорциональной счетной трубки, которой оснащен прибор XDLM. Поэтому эта модель подходит для общего анализа материалов, определения следовых количеств веществ и измерения толщины тонких покрытий.
В качестве источника рентгеновского излучения используется микрофокусная трубка, обеспечивающая разрешение мелких участков мишени. Однако ввиду относительно малой площади активной области детектора (по сравнению с пропорциональной счетной трубкой) модель XDAL 237 лишь ограниченно пригодна для анализа очень мелких структур или применений с очень малым размером зоны измерения, поскольку регистрирует только малые значения интенсивности. Как и в XDLM, диафрагмы и фильтры можно сменять автоматически для создания оптимальных условий возбуждения при решении различных измерительных задач.
Модель FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 оборудована большой измерительной камерой, позволяющей исследовать образцы сложной формы. Благодаря регулируемой оси Z с автоматическим приводом возможна работа с образцами высотой до 140 мм. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Измерительная система оснащена быстродействующей программируемой XY-платформой, с помощью которой можно легко исследовать поверхности образца в режиме картографирования.
Кроме того, предусмотрена возможность программирования и автоматического выполнения последовательных измерений на компонентах (например, выводных рамках), а также на множестве компонентов, в т. ч. разнотипных.
Описание
Отличительные особенности
- Измерение и анализ очень тонких покрытий даже при очень сложных композициях или в небольших концентрациях элементов.
- Программируемая X/Y-платформа позволяет использовать прибор для автоматизированных измерений в области обеспечения качества и контроля производства.
Область применения
- Измерение толщины покрытий, анализ материалов и сплавов (в т. ч. тонких покрытий, сплавов с низкой концентрацией элементов) .
- Входной контроль, контроль производственных процессов.
- НИОКР
- Электронная промышленность.
- Соединители и контакты.
- Ювелирная и часовая промышленность.
- Измерение толщины тонких золотых и палладиевых покрытий при производстве печатных плат.
- Определение следовых количеств веществ.
- Анализ покрытий из твердых материалов.
Технические характеристики
- Диапазон измеряемых элементов: от Al (z=13) до U (z=92).
- Одновременный анализ до 24 элементов и 24 слоев.
- Кремниевый PIN (полупроводниковый) детектор с охлаждающим элементом Пельтье (не нуждается в охлаждении жидким азотом).
- Измерительная платформа (оси XY): быстро перемещаемая, с электромотором, можно программировать перемещение.
- Вертикальный детектор (ось Z): перемещаемый.
- Крышка измерительной камеры: открывающаяся вверх, с прозрачной передней панелью.
- Увеличенная камера c щелевым отверстием для измерения работы с плоскими образцами.
- Микрофокусная трубка.
- Цветной видеомикроскоп и лазерный указатель для ориентации образца и наблюдения за местом измерения.
- Точная настройка может производиться вручную или с помощью джойстика, или с ПК при помощи мыши и клавиатуры.
- Возможность установки напряжения источника рентгеновского излучения: 10, 30 или 50 кВ
- Коллиматоры: 0,1 мм; 0,3 мм; 0,6 мм; 0,5x0,15 мм.
- Измерения проводятся сверху вниз.
- Размеры измерительной камеры (Ширина x глубина x высота): 237: 460 х 495 х 146 мм,
- Максимальный вес измеряемого образца: до 5 кг; до 20 кг - с уменьшением точности перемещения.
- Максимальная высота образца: до 140 мм.
- Рабочие температуры: 10 °C – 40 °C; температура хранения: 0 °C – 50 °C.
- Программное обеспечение Win FTM V.6 BASIC + PDM.
- Вес прибора – 115 кг.
- Прибор поставляется с компьютером, монитором, калибровочным набором из чистых элементов.
Дополнительные принадлежности (по отдельной заявке):
- WinFTM V.6 SUPER XAN/XDAL/XDVM (603-654).
- ACCESSORIES SOLUTION ANAL. Mo (603-216).
Характеристики:
- Назначение изделия
- Толщиномер
- Температура
- от 10 до 40 С
- Вес
- 115 кг
- Длина
- 460 мм
- Ширина
- 495 мм
- Высота
- 146 мм