Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ Рентгенфлюоресцентный толщиномер

Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV- μ Рентгенфлуоресцентный спектрометр-толщиномер с высокоточной программируемой X/Y платформой, возможностью перемещения по оси Z, измерительным и высокопроизводительным вычислительным модулем.

Измерительные системы FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ оснащены поликапиллярной рентгеновской оптикой для фокусировки рентгеновского излучения. Она обеспечивает необходимое разрешение при очень малом размере зоны измерения и высокую интенсивность возбуждения. Благодаря кремниевому дрейфовому детектору с большой площадью активной области эти приборы позволяют особенно эффективно измерять толщину очень тонких покрытий, а также определять следовые количества веществ в мелких структурах и компонентах. Чтобы можно было создать идеальные условия возбуждения для каждого измерения, системы XDV-μ оснащены четырьмя сменными первичными фильтрами. Благодаря измерительным камерам большого объема с удобным доступом внутрь эти приборы подходят для измерений на плоских объектах. Для крупных плоских образцов, таких как печатные платы, в корпусе предусмотрен С-образный боковой вырез. Быстродействующая программируемая XY-платформа позволяет легко выполнять последовательные измерения толщины покрытия и распределения элементов в составе.  

Дружественный к пользователю интерфейс, широко открывающаяся крышка с большим смотровым окном и органы управления на передней панели облегчают повседневную эксплуатацию прибора. Точное позиционирование образца обеспечивает видеокамера с оптикой высокого разрешения и тремя значениями коэффициента увеличения. С ее помощью можно получить предельно резкое изображение самых тонких проводов и мельчайших контактных площадок полупроводниковых компонентов, расположив зону измерения точно в заданном месте. Дополнительным подспорьем служит лазерный указатель, помогающий быстрее придать образцу нужное положение.  

Благодаря своим широким возможностям и универсальной конструкции приборы XDV-μ идеально подходят для НИОКР, аттестации технологических процессов и лабораторного применения, а также могут служить ценными инструментами обеспечения качества и контроля производственных процессов.  

Кроме того, предусмотрена возможность программирования и автоматического выполнения последовательных измерений на компонентах (например, выводных рамках), а также на множестве компонентов, в т. ч. разнотипных.  

Предназначен для автоматизированных измерений:

• толщины покрытий на очень мелких деталях;
• анализа состава сплавов очень мелких деталей;
• анализа структуры слоев печатных плат (для размеров печатных плат до 610х610 мм);
• анализа очень тонких покрытий (напр. золото на палладии толщиной до ≤ 0.1 мкм);
• определения толщины и состава в сложных многослойных системах покрытий.